長期以來,線圈內(nèi)徑檢測主要依賴卡尺、千分尺或內(nèi)徑量表等接觸式工具,部分高要求場景采用三坐標(biāo)測量機(CMM)。然而,這些方法存在明顯短板:
易造成形變誤差:線圈多由帶絕緣漆包線繞制而成,結(jié)構(gòu)柔軟。接觸式探頭施加的壓力易導(dǎo)致局部變形,引入0.02–0.03 mm的測量偏差;對于內(nèi)徑小于10 mm的微型線圈,誤差率甚至高達8%–12%。
數(shù)據(jù)覆蓋不足:傳統(tǒng)方式僅能獲取有限離散點的尺寸信息,無法完整評估內(nèi)徑的圓度、圓柱度、母線直線度等形位公差,難以識別橢圓度超差、局部凹陷等隱性缺陷。